Benchtop XRF

台式 X 射线荧光光谱仪

Benchtop Micro-XRF Spectrometer 台式微区 XRF 光谱仪

图片仅供参考，具体配置以订单为准。

型号 BEX-0004 · X 射线分析仪器

台式微区 XRF 光谱仪

Benchtop Micro-XRF Spectrometer

需要元素分布图又不想用落地式仪器的失效分析人员、地质学家和文物保护人员，可选用这款台式微区XRF。光斑可聚焦至10–100 µm，100 × 100 mm样品台分辨率1 µm，可对Na至U元素生成点、线或面分布图，典型检出限10–1000 mg/kg。请告知典型样品尺寸。

斑点尺寸: 10–100 µm
元素范围: Na to U
检出限: 10–1000 mg/kg typical
台行程: up to 100 × 100 mm
台分辨率: 1 µm

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包装与运输

产地	中国（上海发货）
品牌	利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装	免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港	上海港 / 宁波港（其他港口可议）
付款方式	T/T 电汇、即期信用证（以报价单为准）
贸易术语	EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款，最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

产品特点

台式仪器实现微米级成像
可定位电路板和零件上的污染颗粒
无损分析，适合文物和物证
硅漂移检测器，成像速度快

应用领域

矿物包裹体和地质物相
涂层、焊点和电子器件分析
污染颗粒和失效分析
文化遗产和考古物体

技术参数 Specifications

参数	数值
斑点尺寸 Spot size	10–100 µm
元素范围 Element range	Na to U
检出限 Detection limit	10–1000 mg/kg typical
台行程 Stage travel	up to 100 × 100 mm
台分辨率 Stage resolution	1 µm
X 射线管功率 X-ray tube power	30–100 W
检测器 Detector	silicon drift detector
成像方式 Mapping	point, line and area maps
外壳 Enclosure	shielded with interlocks
通信接口 Interface	Ethernet
型号	BEX-0004
产地	中国（上海发货）

适用标准 Standards

ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products ISO 3497 Metallic coatings — X-ray spectrometric thickness ASTM D4294 Sulfur in petroleum products by EDXRF IEC 61010-2-091 ISO/IEC 17025

本类产品参照的中国国家标准（GB/T、JJG）及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。