ICP-MS

电感耦合等离子体质谱仪

ICP-TOF-MS System 电感耦合等离子体飞行时间质谱仪（ICP-TOF-MS）

图片仅供参考，具体配置以订单为准。

型号 IMS-0004 · 质谱仪器

电感耦合等离子体飞行时间质谱仪（ICP-TOF-MS）

ICP-TOF-MS System

纳米颗粒计数、激光剥蚀成像和快速瞬态信号，要求所有质量数同时记录。这台ICP-TOF-MS以20–30 kHz引出频率同时采集m/z 14–275，分辨率约1000–6000 FWHM，检出限0.1–10 ppt，可检测低至约10–15 nm的金纳米颗粒，陷波滤波器可去除选定的强信号质量数。请告知应用需求。

质量范围: m/z 14–275 (simultaneous)
质量分辨率: ~1000–6000 FWHM
采集速率: ~20–30 kHz extraction
灵敏度（In 115）: ≥ 1×10^7 cps/ppm
检出限（典型元素）: 0.1–10 ppt

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包装与运输

产地	中国（上海发货）
品牌	利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装	免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港	上海港 / 宁波港（其他港口可议）
付款方式	T/T 电汇、即期信用证（以报价单为准）
贸易术语	EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款，最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

产品特点

每个事件同时获得全质量范围
单颗粒粒径测定，金颗粒可至约10–15 nm
陷波滤波器保护检测器免受基体离子冲击
多元素指纹，用于来源追溯

应用领域

纳米材料单颗粒分析
组织和矿物激光剥蚀成像
快速色谱和流动注射瞬态信号
同位素示踪和多元素指纹分析
环境颗粒和胶体表征

技术参数 Specifications

参数	数值
质量范围 Mass range	m/z 14–275 (simultaneous)
质量分辨率 Mass resolution	~1000–6000 FWHM
采集速率 Acquisition rate	~20–30 kHz extraction
灵敏度（In 115） Sensitivity (In 115)	≥ 1×10^7 cps/ppm
检出限（典型元素） Detection limit (typical elements)	0.1–10 ppt
动态范围 Dynamic range	5–6 orders of magnitude
可检测最小纳米颗粒（Au） Minimum detectable nanoparticle (Au)	~10–15 nm
陷波滤波器范围 Notch filter range	Selectable m/z windows
激光剥蚀联用 Laser ablation coupling	Supported (low-dispersion cell)
氩气消耗 Argon consumption	~15–18 L/min
型号	IMS-0004
产地	中国（上海发货）

适用标准 Standards

USP <233> Elemental Impurities Procedures ICH Q3D Elemental Impurities EPA Method 200.8 EPA Method 6020B ISO 17294-2 ASTM D5673 EN 15763 GB 5009.268 ISO/IEC 17025 IEC 61010-1

本类产品参照的中国国家标准（GB/T、JJG）及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。