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Surface Area Analyzers

比表面积分析仪

型号 SUR-0002 · 表面分析仪器

薄膜与平整基底用氪气低比表面积分析仪

Krypton Low-Surface-Area Analyzer for Thin Films and Flat Substrates

涂层、晶圆、陶瓷芯块和低比表面积晶体的表面积太小,氮气BET难以准确测定。本机采用77 K氪气,配1 torr和10 torr传感器,可测总面积低至0.05 m²,比表面积0.001–20 m²/g。在0.1 m²总面积时重复性≤4% RSD,可按测样量选择1或2个分析口。

吸附质
Krypton at 77 K
最小总表面积
≥ 0.05 m²
比表面积范围
0.001–20 m²/g
传感器量程
1 torr and 10 torr
传感器精度
±0.15% of reading
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包装与运输

产地中国(上海发货)
品牌利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港上海港 / 宁波港(其他港口可议)
付款方式T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准)
贸易术语EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

涂层、晶圆、陶瓷芯块和低比表面积晶体的表面积太小,氮气BET难以准确测定。本机采用77 K氪气,配1 torr和10 torr传感器,可测总面积低至0.05 m²,比表面积0.001–20 m²/g。在0.1 m²总面积时重复性≤4% RSD,可按测样量选择1或2个分析口。

产品特点

  • 氪气吸附,适合极低比表面积
  • 总面积可低至0.05 m²
  • 传感器准确度±0.15%读数
  • 1或2个分析口可选

应用领域

  • 薄膜和涂层比表面积
  • 核燃料芯块和陶瓷分析
  • 平整晶圆和基底表征
  • 低面积药物晶体

技术参数 Specifications

参数数值
吸附质 Adsorbate Krypton at 77 K
最小总表面积 Minimum total surface area ≥ 0.05 m²
比表面积范围 Surface area range 0.001–20 m²/g
传感器量程 Transducer range 1 torr and 10 torr
传感器精度 Transducer accuracy ±0.15% of reading
BET 相对压力 Relative pressure for BET 0.05–0.30
重复性 Repeatability ≤ 4% RSD at 0.1 m² total
分析口数 Analysis ports 1–2
脱气温度 Degassing temperature Ambient to 350 °C
真空系统 Vacuum system Rotary vane + turbomolecular pump
型号SUR-0002
产地中国(上海发货)

适用标准 Standards

ISO 9277 ISO 15901-2 ISO 15901-3 ASTM D3663 ASTM D4365

本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。

包装与运输 Packing & Shipping

出口包装

免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱

每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。

装运港

上海港 / 宁波港(其他港口可议)

海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。

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