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Polymer Spectroscopy

聚合物光谱分析仪

型号 PSP-0006 · 聚合物分析设备

聚合物分析用近红外光谱仪

Near-Infrared Spectrometer for Polymer Analysis

建立偏最小二乘回归模型后,近红外可在 1–10 s 内鉴别来料粒子、估算吸湿性树脂水分并筛查填料含量。780–2500 nm 范围由硅和 InGaAs 检测器覆盖,支持漫反射、透射和交互反射模式,光纤探头可用于薄膜在线测量。

波长范围
780–2500 nm
光学分辨率
2–10 nm
检测器
Silicon and indium gallium arsenide
测量模式
Diffuse reflectance, transmission, interactance
光斑尺寸
2–20 mm depending on probe
立即询价

包装与运输

产地中国(上海发货)
品牌利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港上海港 / 宁波港(其他港口可议)
付款方式T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准)
贸易术语EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

建立偏最小二乘回归模型后,近红外可在 1–10 s 内鉴别来料粒子、估算吸湿性树脂水分并筛查填料含量。780–2500 nm 范围由硅和 InGaAs 检测器覆盖,支持漫反射、透射和交互反射模式,光纤探头可用于薄膜在线测量。

产品特点

  • 速度快,进货时可逐袋逐箱检测。
  • 光斑 2–20 mm,视探头而定。
  • 光学分辨率 2–10 nm。
  • 在线探头可用于薄膜厚度和组成控制。

应用领域

  • 进料聚合物粒料快速鉴别
  • 吸湿性树脂水分测定
  • 助剂和填料含量筛查
  • 薄膜厚度与组成在线控制

技术参数 Specifications

参数数值
波长范围 Wavelength range 780–2500 nm
光学分辨率 Optical resolution 2–10 nm
检测器 Detector Silicon and indium gallium arsenide
测量模式 Measurement modes Diffuse reflectance, transmission, interactance
光斑尺寸 Spot size 2–20 mm depending on probe
扫描时间 Scan time 1–10 s per spectrum
校准方法 Calibration method Partial least squares regression
探头类型 Probe type Fibre-optic reflectance or transmission
样品温度范围 Sample temperature range 10–60 °C for model validity
电源 Power supply 220 V, 50/60 Hz
型号PSP-0006
产地中国(上海发货)

适用标准 Standards

ASTM E1252 ASTM E168 ASTM D5576 ASTM D3677 ISO 4650 ASTM E1840 IEC 61010-1

本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。

包装与运输 Packing & Shipping

出口包装

免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱

每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。

装运港

上海港 / 宁波港(其他港口可议)

海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。

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本次询价产品: Near-Infrared Spectrometer for Polymer Analysis (PSP-0006)

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