型号 XRD-0004
微聚焦 X 射线衍射仪Micro-Focus X-Ray Diffractometer
- 束斑尺寸
- 10–200 µm
- 2-theta 范围
- 0–90° with 2D detector
XRF

图片仅供参考,具体配置以订单为准。
型号 XRF-0003 · X 射线分析仪器
Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer
半导体晶圆厂和超纯水实验室需要从微量沉积物中测定皮克级金属。全反射XRF将X射线以低于0.1°的角度照射抛光石英或硅片载体,只需1–50 µL样品即可测定Na至U的元素,激发源可为X射线管或同步辐射。欢迎咨询样品制备和内标方法。
| 产地 | 中国(上海发货) |
|---|---|
| 品牌 | 利奎德国际 / 可 OEM 贴牌 |
| 出口包装 | 免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱 |
| 装运港 | 上海港 / 宁波港(其他港口可议) |
| 付款方式 | T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准) |
| 贸易术语 | EXW、FOB、CFR、CIF、DAP |
以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。
半导体晶圆厂和超纯水实验室需要从微量沉积物中测定皮克级金属。全反射XRF将X射线以低于0.1°的角度照射抛光石英或硅片载体,只需1–50 µL样品即可测定Na至U的元素,激发源可为X射线管或同步辐射。欢迎咨询样品制备和内标方法。
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 元素范围 Element range | Na to U |
| 检出限 Detection limit | picogram to nanogram range |
| 样品体积 Sample volume | 1–50 µL |
| 入射角 Incidence angle | below critical angle, < 0.1° |
| 载体 Carrier | polished quartz or silicon wafer |
| 激发 Excitation | X-ray tube or synchrotron |
| 检测器 Detector | silicon drift or Si(Li) |
| 测量气氛 Atmosphere | air or vacuum |
| 测量时间 Measurement time | 100–1000 s |
| 通信接口 Interface | Ethernet / USB |
| 型号 | XRF-0003 |
| 产地 | 中国(上海发货) |
本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。
免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。
上海港 / 宁波港(其他港口可议)
海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。
请填写以下信息,我们的外贸工程师将在 24 小时内发送详细配置与正式形式发票。
单台设备、整套实验室或政府招标项目,我们的外贸工程师均可提供配置建议、形式发票与出口文件。