型号 SUP-0001
接触式触针表面粗糙度轮廓仪Contact Stylus Surface Roughness Profilometer
- 垂直测量范围
- ±250 µm (500 µm total)
- 垂直分辨率
- 1–10 nm
Surface Profilometers
表面轮廓仪
Surface Profilometers
表面轮廓仪 — 表面分析仪器
机加工零件、晶圆、光学元件和涂层的图纸上通常会标注粗糙度和形状要求，因此测量方式必须与规范一致。我们的轮廓仪包括接触式触针仪器、用于非接触三维成像的白光干涉仪和共聚焦激光系统、适合车间现场的便携式粗糙度仪，以及可测纳米级形貌的原子力显微镜方案。参数评定可依据ISO 21920-2、ISO 25178-2、ISO 4287和ISO 4288。
5 款型号
代码 SUP
支持 OEM 贴牌
适用标准
ISO 4287
ISO 21920-2
ISO 25178-2
ISO 4288
ASTM D7127
本系列型号
5 款
型号 SUP-0002
白光干涉三维光学轮廓仪White-Light Interferometric 3D Optical Profilometer
- 垂直分辨率
- < 0.1 nm (PSI); ~1 nm (CSI)
- 垂直扫描范围
- Up to 10 mm
型号 SUP-0005
纳米尺度粗糙度用原子力显微轮廓仪Atomic Force Microscope Profilometer for Nanoscale Roughness
- 扫描范围（XY）
- Up to 90 × 90 µm
- Z 向范围
- ≈ 10 µm