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Surface Profilometers

表面轮廓仪

型号 SUP-0005 · 表面分析仪器

纳米尺度粗糙度用原子力显微轮廓仪

Atomic Force Microscope Profilometer for Nanoscale Roughness

晶圆、薄膜或石墨烯需要原子尺度粗糙度数据时,原子力显微镜几乎是唯一可行的选择。本机XY扫描范围最大90 × 90 µm,Z向约10 µm,垂直噪声低于0.05 nm RMS。提供接触、轻敲和非接触三种模式,图像分辨率最高4096 × 4096像素,可放置直径100 mm、厚20 mm的样品。

扫描范围(XY)
Up to 90 × 90 µm
Z 向范围
≈ 10 µm
垂直噪声
< 0.05 nm RMS
横向分辨率
≈ 1–5 nm
成像模式
Contact, tapping, non-contact
立即询价

包装与运输

产地中国(上海发货)
品牌利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港上海港 / 宁波港(其他港口可议)
付款方式T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准)
贸易术语EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

晶圆、薄膜或石墨烯需要原子尺度粗糙度数据时,原子力显微镜几乎是唯一可行的选择。本机XY扫描范围最大90 × 90 µm,Z向约10 µm,垂直噪声低于0.05 nm RMS。提供接触、轻敲和非接触三种模式,图像分辨率最高4096 × 4096像素,可放置直径100 mm、厚20 mm的样品。

产品特点

  • 垂直噪声低于0.05 nm RMS
  • 三种成像模式,兼顾硬质与软质样品
  • 图像最高4096 × 4096像素
  • 可放置直径100 mm样品

应用领域

  • 晶圆和基底纳米粗糙度
  • 薄膜和聚合物形貌
  • 纳米材料和石墨烯成像
  • 光学镀膜缺陷

技术参数 Specifications

参数数值
扫描范围(XY) Scan range (XY) Up to 90 × 90 µm
Z 向范围 Z range ≈ 10 µm
垂直噪声 Vertical noise < 0.05 nm RMS
横向分辨率 Lateral resolution ≈ 1–5 nm
成像模式 Imaging modes Contact, tapping, non-contact
图像分辨率 Image resolution Up to 4096 × 4096 px
样品尺寸 Sample size Up to 100 mm diameter, 20 mm thick
扫描速度 Scan speed 0.1–30 Hz line rate
针尖半径 Tip radius 2–10 nm typical
隔振 Isolation Active table and acoustic hood
型号SUP-0005
产地中国(上海发货)

适用标准 Standards

ISO 4287 ISO 21920-2 ISO 25178-2 ISO 4288 ASTM D7127

本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。

包装与运输 Packing & Shipping

出口包装

免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱

每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。

装运港

上海港 / 宁波港(其他港口可议)

海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。

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