型号 XRA-0001
单晶 X 射线衍射仪Single-Crystal X-Ray Diffractometer
- 晶体尺寸
- 50–300 µm typical
- 2-theta 范围
- up to 160°
X-Ray Diffractometers
X 射线衍射仪
X-Ray Diffractometers
X 射线衍射仪 — X 射线分析仪器
这组衍射仪超越常规粉末分析，面向结构解析、薄膜和力学性能研究。产品包括用于分子结构测定的单晶和四圆衍射仪、掠入射薄膜衍射系统、测量膜层厚度和密度的X射线反射仪、用于焊缝和机加工件的残余应力衍射仪，以及研究纳米结构的小角散射仪。选型取决于科研或质检任务所需的测量几何。
6 款型号
代码 XRA
支持 OEM 贴牌
适用标准
ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation
ASTM E1426 Determining the effective elastic parameter for X-ray diffraction measurements of residual stress
USP <941> X-Ray Diffraction
ISO 20203 Carbonaceous materials — XRD of calcined coke
ISO/IEC 17025
IEC 61010-2-091
本系列型号
6 款
型号 XRA-0002
四圆 X 射线衍射仪Four-Circle X-Ray Diffractometer
- 轴数
- omega, 2-theta, chi, phi
- chi 范围
- 0–90° or more
型号 XRA-0003
掠入射薄膜 X 射线衍射仪Thin-Film X-Ray Diffractometer with Grazing Incidence
- 入射角
- 0.1–5°
- 2-theta 范围
- 0–120°
