X-Ray Diffractometers
图片仅供参考，具体配置以订单为准。
型号 XRA-0004 · X 射线分析仪器
X-Ray Reflectometry Diffractometer
多层镀膜、聚合物薄膜和半导体叠层以厚度、密度和界面粗糙度为规格指标，X射线反射率法可直接测量。本机扫描0–10°，最小步长0.001°，可测厚度0.3–500 nm，粗糙度0.1–5 nm，样品平整度需优于1 nm RMS。请告知膜层结构。
| 产地 | 中国（上海发货） |
|---|---|
| 品牌 | 利奎德国际 / 可 OEM 贴牌 |
| 出口包装 | 免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱 |
| 装运港 | 上海港 / 宁波港（其他港口可议） |
| 付款方式 | T/T 电汇、即期信用证（以报价单为准） |
| 贸易术语 | EXW、FOB、CFR、CIF、DAP |
以上为常规出口条款，最终条款以形式发票 (PI) 为准。
多层镀膜、聚合物薄膜和半导体叠层以厚度、密度和界面粗糙度为规格指标，X射线反射率法可直接测量。本机扫描0–10°，最小步长0.001°，可测厚度0.3–500 nm，粗糙度0.1–5 nm，样品平整度需优于1 nm RMS。请告知膜层结构。
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 角度范围 Angular range | 0–10° |
| 厚度范围 Thickness range | 0.3 nm to 500 nm |
| 粗糙度分辨率 Roughness resolution | 0.1–5 nm |
| 角度步进 Angular step | down to 0.001° |
| 检测器 Detector | scintillation or area detector |
| X 射线管功率 X-ray tube power | 1–3 kW |
| 光学 Optics | parallel beam or monochromator |
| 样品平整度 Sample flatness | better than 1 nm RMS |
| 样品尺寸 Sample size | up to 200 mm wafers |
| 通信接口 Interface | Ethernet |
| 型号 | XRA-0004 |
| 产地 | 中国（上海发货） |
本类产品参照的中国国家标准（GB/T、JJG）及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。
免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
每台设备在包装前均进行通电运行测试，内衬防震泡沫与防潮膜，木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。
上海港 / 宁波港（其他港口可议）
海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排，全套出口单证随货提供。
请填写以下信息，我们的外贸工程师将在 24 小时内发送详细配置与正式形式发票。
单台设备、整套实验室或政府招标项目，我们的外贸工程师均可提供配置建议、形式发票与出口文件。
