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X-Ray Diffractometers

X 射线衍射仪

型号 XRA-0001 · X 射线分析仪器

单晶 X 射线衍射仪

Single-Crystal X-Ray Diffractometer

确认新化合物结构或绝对构型的化学家,以及研究盐型和晶型的晶体学者,都依赖单晶衍射。本机可测50–300 µm晶体,采用kappa或四圆测角仪、封闭管或微焦斑光源及大面积光子计数探测器,配温控装置可在80–400 K测量,每个晶体收集时间1–24 h。

晶体尺寸
50–300 µm typical
2-theta 范围
up to 160°
测角仪
kappa or four-circle
检测器
large area, photon counting
X 射线源
sealed tube or microfocus
立即询价

包装与运输

产地中国(上海发货)
品牌利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港上海港 / 宁波港(其他港口可议)
付款方式T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准)
贸易术语EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

确认新化合物结构或绝对构型的化学家,以及研究盐型和晶型的晶体学者,都依赖单晶衍射。本机可测50–300 µm晶体,采用kappa或四圆测角仪、封闭管或微焦斑光源及大面积光子计数探测器,配温控装置可在80–400 K测量,每个晶体收集时间1–24 h。

产品特点

  • 可测定手性分子绝对构型
  • 低温装置提升数据质量
  • 光子计数探测器,帧噪声低
  • 可选微焦斑,适合小晶体或弱衍射晶体

应用领域

  • 新化合物结构测定
  • 手性分子绝对构型
  • 多晶型和盐型结构研究
  • 矿物和无机晶体结构研究

技术参数 Specifications

参数数值
晶体尺寸 Crystal size 50–300 µm typical
2-theta 范围 2-theta range up to 160°
测角仪 Goniometer kappa or four-circle
检测器 Detector large area, photon counting
X 射线源 X-ray source sealed tube or microfocus
温度范围 Temperature range 80–400 K with device
角度准确度 Angular accuracy ±0.01°
数据采集时间 Data collection time 1–24 h per crystal
辐射 Radiation Mo or Cu K-alpha
外壳 Enclosure shielded with interlocks
型号XRA-0001
产地中国(上海发货)

适用标准 Standards

ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation ASTM E1426 Determining the effective elastic parameter for X-ray diffraction measurements of residual stress USP <941> X-Ray Diffraction ISO 20203 Carbonaceous materials — XRD of calcined coke ISO/IEC 17025 IEC 61010-2-091

本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。

包装与运输 Packing & Shipping

出口包装

免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱

每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。

装运港

上海港 / 宁波港(其他港口可议)

海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。

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