型号 BEX-0002
台式波长色散 XRF 光谱仪Benchtop Wavelength-Dispersive XRF Spectrometer
- 元素范围
- Na or Mg to U
- 检出限
- 0.5–20 mg/kg typical
X-Ray Diffractometers

图片仅供参考,具体配置以订单为准。
型号 XRA-0001 · X 射线分析仪器
Single-Crystal X-Ray Diffractometer
确认新化合物结构或绝对构型的化学家,以及研究盐型和晶型的晶体学者,都依赖单晶衍射。本机可测50–300 µm晶体,采用kappa或四圆测角仪、封闭管或微焦斑光源及大面积光子计数探测器,配温控装置可在80–400 K测量,每个晶体收集时间1–24 h。
| 产地 | 中国(上海发货) |
|---|---|
| 品牌 | 利奎德国际 / 可 OEM 贴牌 |
| 出口包装 | 免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱 |
| 装运港 | 上海港 / 宁波港(其他港口可议) |
| 付款方式 | T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准) |
| 贸易术语 | EXW、FOB、CFR、CIF、DAP |
以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。
确认新化合物结构或绝对构型的化学家,以及研究盐型和晶型的晶体学者,都依赖单晶衍射。本机可测50–300 µm晶体,采用kappa或四圆测角仪、封闭管或微焦斑光源及大面积光子计数探测器,配温控装置可在80–400 K测量,每个晶体收集时间1–24 h。
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 晶体尺寸 Crystal size | 50–300 µm typical |
| 2-theta 范围 2-theta range | up to 160° |
| 测角仪 Goniometer | kappa or four-circle |
| 检测器 Detector | large area, photon counting |
| X 射线源 X-ray source | sealed tube or microfocus |
| 温度范围 Temperature range | 80–400 K with device |
| 角度准确度 Angular accuracy | ±0.01° |
| 数据采集时间 Data collection time | 1–24 h per crystal |
| 辐射 Radiation | Mo or Cu K-alpha |
| 外壳 Enclosure | shielded with interlocks |
| 型号 | XRA-0001 |
| 产地 | 中国(上海发货) |
本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。
免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。
上海港 / 宁波港(其他港口可议)
海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。
请填写以下信息,我们的外贸工程师将在 24 小时内发送详细配置与正式形式发票。
单台设备、整套实验室或政府招标项目,我们的外贸工程师均可提供配置建议、形式发票与出口文件。