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X-Ray Diffractometers

X 射线衍射仪

型号 XRA-0003 · X 射线分析仪器

掠入射薄膜 X 射线衍射仪

Thin-Film X-Ray Diffractometer with Grazing Incidence

厚度仅几纳米的阻挡层、硬质涂层和氧化膜,在常规扫描中几乎看不到信号。这台薄膜衍射仪采用0.1–5°掠入射和平行光镜面光路,可分析1 nm至10 µm的薄膜,可容纳最大200 mm晶圆,并支持摇摆曲线和极图测量织构。请告知膜厚和基底材料。

入射角
0.1–5°
2-theta 范围
0–120°
光学
parallel beam with mirror
检测器
line or area detector
薄膜厚度
1 nm to 10 µm
立即询价

包装与运输

产地中国(上海发货)
品牌利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港上海港 / 宁波港(其他港口可议)
付款方式T/T 电汇、即期信用证(以报价单为准)
贸易术语EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款,最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

厚度仅几纳米的阻挡层、硬质涂层和氧化膜,在常规扫描中几乎看不到信号。这台薄膜衍射仪采用0.1–5°掠入射和平行光镜面光路,可分析1 nm至10 µm的薄膜,可容纳最大200 mm晶圆,并支持摇摆曲线和极图测量织构。请告知膜厚和基底材料。

产品特点

  • 掠入射增强超薄膜信号
  • 可容纳最大200 mm晶圆
  • 摇摆曲线评估外延质量
  • 平行光光路,对表面不平容忍度高

应用领域

  • 半导体薄膜和阻挡层
  • 光学和硬质涂层
  • 外延薄膜和衬底关系
  • 腐蚀和氧化层分析

技术参数 Specifications

参数数值
入射角 Incidence angle 0.1–5°
2-theta 范围 2-theta range 0–120°
光学 Optics parallel beam with mirror
检测器 Detector line or area detector
薄膜厚度 Film thickness 1 nm to 10 µm
X 射线管功率 X-ray tube power 1–3 kW
样品尺寸 Sample size up to 200 mm wafers
织构测量 Texture measurement rocking curves and pole figures
测量气氛 Atmosphere air or vacuum
通信接口 Interface Ethernet
型号XRA-0003
产地中国(上海发货)

适用标准 Standards

ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation ASTM E1426 Determining the effective elastic parameter for X-ray diffraction measurements of residual stress USP <941> X-Ray Diffraction ISO 20203 Carbonaceous materials — XRD of calcined coke ISO/IEC 17025 IEC 61010-2-091

本类产品参照的中国国家标准(GB/T、JJG)及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。

包装与运输 Packing & Shipping

出口包装

免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱

每台设备在包装前均进行通电运行测试,内衬防震泡沫与防潮膜,木箱符合国际植物检疫标准 (ISPM 15)。

装运港

上海港 / 宁波港(其他港口可议)

海运整柜 (FCL)、拼箱 (LCL) 或空运均可安排,全套出口单证随货提供。

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