Benchtop XRF

台式 X 射线荧光光谱仪

Benchtop Polarized XRF Spectrometer 台式偏振 XRF 光谱仪

图片仅供参考，具体配置以订单为准。

型号 BEX-0006 · X 射线分析仪器

台式偏振 XRF 光谱仪

Benchtop Polarized XRF Spectrometer

需要在台式仪器上测定土壤、植物或塑料中痕量元素的实验室，可借助偏振二次靶激发降低检出限。这款XRF覆盖Na至U，典型检出限0.1–10 mg/kg，光管100–400 W，测量时间300–1800 s，以压片和薄膜样品效果最佳。请告知元素清单。

元素范围: Na to U
检出限: 0.1–10 mg/kg typical
激发方式: polarized with secondary targets
X 射线管功率: 100–400 W
检测器: silicon drift detector

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包装与运输

产地	中国（上海发货）
品牌	利奎德国际 / 可 OEM 贴牌
出口包装	免熏蒸胶合板木箱或加固纸箱
装运港	上海港 / 宁波港（其他港口可议）
付款方式	T/T 电汇、即期信用证（以报价单为准）
贸易术语	EXW、FOB、CFR、CIF、DAP

以上为常规出口条款，最终条款以形式发票 (PI) 为准。

产品描述 Description

产品特点

偏振几何降低散射背景
台式体积实现痕量分析性能
二次靶针对不同元素组优化
可在空气或真空下测量

应用领域

土壤和沉积物中痕量元素
地质和矿业样品
生物和植物材料
塑料、废物和回收材料

技术参数 Specifications

参数	数值
元素范围 Element range	Na to U
检出限 Detection limit	0.1–10 mg/kg typical
激发方式 Excitation	polarized with secondary targets
X 射线管功率 X-ray tube power	100–400 W
检测器 Detector	silicon drift detector
测量时间 Measurement time	300–1800 s
样品形态 Sample form	pressed pellets, thin films
测量气氛 Atmosphere	air or vacuum
外壳 Enclosure	shielded with interlocks
通信接口 Interface	Ethernet
型号	BEX-0006
产地	中国（上海发货）

适用标准 Standards

ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products ISO 3497 Metallic coatings — X-ray spectrometric thickness ASTM D4294 Sulfur in petroleum products by EDXRF IEC 61010-2-091 ISO/IEC 17025

本类产品参照的中国国家标准（GB/T、JJG）及国际标准。检测报告与证书可随报价单一并提供。